什么是電子產(chǎn)品高低溫測(cè)試時(shí)長(zhǎng)分析

高低溫測(cè)試要多長(zhǎng)時(shí)間主要看被檢測(cè)的樣品主要應(yīng)用于哪個(gè)行業(yè)，使用時(shí)的環(huán)境差不多就能判斷出檢測(cè)所需的溫度。然后在了解一下行業(yè)需要滿足的標(biāo)準(zhǔn)，其中會(huì)規(guī)定樣品在高溫環(huán)境、低溫環(huán)境下各自儲(chǔ)存的時(shí)間，再加上高低溫循環(huán)次數(shù)以及高低溫測(cè)試箱升降溫所需的時(shí)間，差不多就能計(jì)算出一次高低溫測(cè)試所需的總時(shí)長(zhǎng)是多少。

如果需要長(zhǎng)時(shí)間且不間斷的進(jìn)行高低溫檢測(cè)的用戶，在挑選高低溫測(cè)試箱時(shí)最好選擇品質(zhì)有保障的設(shè)備，確保在檢測(cè)的過(guò)程中不會(huì)因?yàn)樵O(shè)備故障而導(dǎo)致實(shí)驗(yàn)被迫停止。如果實(shí)驗(yàn)時(shí)間較短，且不確定是否還需進(jìn)行高低溫測(cè)試，可以選擇北測(cè)檢測(cè)，收取費(fèi)用低、方式靈活，不需要在實(shí)驗(yàn)結(jié)束后不斷對(duì)高低溫測(cè)試箱進(jìn)行維護(hù)保養(yǎng)。

1、高溫一般48小時(shí)，低溫24小時(shí)。
2、高低溫試驗(yàn)是用來(lái)確定產(chǎn)品在高zhi溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。
3、溫度范圍：-40℃～150℃，溫差：±0.5℃
濕度范圍：20～98%RH，濕差：±2.5%RH
升溫時(shí)間：從室溫升至100℃，時(shí)間為30分鐘
降溫范圍：從室溫降至-40℃，時(shí)間為45分鐘
在電子整機(jī)產(chǎn)品生產(chǎn)廠家里,廣泛使用的老化篩選項(xiàng)目有高溫存儲(chǔ)老化、高低溫循環(huán)老化、高低溫沖擊老化和高溫功率老化等,其中高溫功率老化是目前使用最多的試驗(yàn)項(xiàng)目.高溫功率老化是給元器件通電,模擬它們?cè)趯?shí)際電路中的工作條件,再加上+80~+180℃之間的高溫進(jìn)行幾小時(shí)至幾十小時(shí)的老化,這是一種對(duì)元器件的多種潛在故障都有篩選作用的有效方法。

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