GBT17626系列標(biāo)準(zhǔn)是電工電子設(shè)備進(jìn)行電磁兼容測試EMC電磁兼容抗干擾能力EMS測試部分的源頭和基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn),對應(yīng)的國際標(biāo)準(zhǔn)為IEC61000-4系列。
GBT17626系列標(biāo)準(zhǔn)定義了電磁兼容抗擾度EMS試驗(yàn)測量技術(shù),是目前應(yīng)用最多的標(biāo)準(zhǔn)系列之一,試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中通常包含試驗(yàn)等級、限值、設(shè)備、試驗(yàn)配置、試驗(yàn)程序、檢測結(jié)果以及檢測報告的相關(guān)要求等內(nèi)容
GBT17626系列標(biāo)準(zhǔn)包含如下內(nèi)容:
1.GB/T17626.1-2006,IEC61000-4-1:2000《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論》
2.GB/T17626.2-2018,IEC61000-4-2:2008《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)》
3.GB/T17626.3-2016,IEC61000-4-3:2010《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗(yàn)》
4.GB/T17626.4-2018,IEC61000-4-4:2012《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)》
5.GB/T17626.5-2019,IEC61000-4-5:2014《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)》
6.GB/T17626.6-2017,IEC61000-4-6:2008《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)》
7.GB/T17626.7-2017,IEC61000-4-7:2009《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、間諧波的測量和測量儀器的導(dǎo)則》
8.GB/T17626.8-2006,IEC61000-4-8:2001《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 工頻磁場抗擾度試驗(yàn)》
9.GB/T17626.9-2011,IEC61000-4-9:2001《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 脈沖磁場抗擾度試驗(yàn)》
10.GB/T17626.10-2017,IEC61000-4-10:2001《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 阻尼振蕩磁場抗擾度試驗(yàn) 114檢測網(wǎng)》
11.GB/T17626.11-2008,IEC61000-4-11:2004《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)》
12.GB/T17626.12-2013,IEC61000-4-12:2006《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 振鈴波抗擾度試驗(yàn)》
13.GB/T17626.13-2013,IEC61000-4-13:2002《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號的低頻傳導(dǎo)抗擾度試驗(yàn)》
14.GB/T17626.14-2005,IEC61000-4-14:2002《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 電壓波動抗擾度試驗(yàn)》
15.GB/T17626.15-2011,IEC61000-4-15:1997《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 閃爍儀 功能和設(shè)計(jì)規(guī)范》
16.GB/T17626.16-2007,IEC61000-4-16:2002《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 0~150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)》
17.GB/T17626.17-2005,IEC61000-4-17:2002《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)》
18.GB/T17626.18-2016,IEC61000-4-18:2011《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 阻尼振蕩波抗擾度試驗(yàn)》
19.GB/T17626.20-2014,IEC61000-4-20:2010《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 橫電波(TEM)波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗(yàn)》
20.GB/T17626.21-2014,IEC61000-4-21:2011《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù)混波試驗(yàn)方法》
21.GB/T17626.22-2017,IEC61000-4-22:2017《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度測量》
22.GB/T17626.24-2012,IEC61000-4-24:1997《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) HEMP傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)方法》
23.GB/T17626.27-2006,IEC61000-4-27:2000《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)》
24.GB/T17626.28-2006,IEC61000-4-28:2001《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn)》
25.GB/T17626.29-2006,IEC61000-4-29:2000《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn) 114檢測網(wǎng)》
26.GB/T17626.30-2012,IEC61000-4-30:2008《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 電能質(zhì)量測量方法》
27.GB/T17626.31-2021,IEC61000-4-31:2016《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 第31部分:交流電源端口寬帶傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)》
28.GB/T17626.34-2012,IEC61000-4-34:2009《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 主電源每相電流大于16A的設(shè)備的電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)》
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